Microscope Electronique à Balayage MEB

Microscope Electronique à Balayage MEB
Microscope Electronique à Balayage MEB

Marque : Zeiss

Modéle : GEMINI SEM 300

L’imagerie MEB consiste en une génération d’image et une analyse d’échantillon à l’aide d’un faisceau d’électron focalisé qui balaye l’échantillon.

  • - Analyse par Energy Dispersive Spectroscopy (EDS).
  • - Contraste topographique par électrons secondaires SE.
  • - Contraste chimique des phases par électrons rétrodiffusés BSE.
  • - Analyse par Electron BackScattered Diffraction (EBSD) : réalisation des Cartes d’orientation cristallographique des grains d’un matériau, la texture du matériau, les tailles de grains.

Research Centre in Industrial Technologies (CRTI)

P.O.Box 64,Cheraga 16014

Algiers, Algeria

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dep.valorisation@crti.dz