Microscope à Force Atomique AFM

Microscope à Force Atomique AFM
Microscope à Force Atomique AFM

Marque : BRUKER

Modéle : ICON DIMENSION

Le microscope à force atomique (AFM) est un type de microscope à sonde locale permettant de visualiser la topographie de la surface d’un échantillon, ce type de microscope repose essentiellement sur l’analyse qualitative d’un objet point par point au moyen d’un balayage via une sonde locale, assimilable à une pointe effilée. Elle permet d’analyser des zones allant de quelques nanomètres à quelques microns.

  • - Microscope à force atomique de contact,
  • - Microscopie à force atomique en mode vibrant (Tapping et/ou en mode sans contact)
  • - Microscopie à force magnétique (MFM),
  • - Mesure en double passage. Cette technique permet une excellente déconvolution de la topographie.

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